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認(rèn)識(shí)一下場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡之能譜儀(EDS)
可同時(shí)記錄所有X射線譜,用以測(cè)量X射線強(qiáng)度與X射線能量的函數(shù)關(guān)系。
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ICP-MS基礎(chǔ)知識(shí)
ICP-MS法具有樣品制備和進(jìn)樣技術(shù)簡單、質(zhì)量掃描速度快、運(yùn)行周期短、所提供的離子信息受干擾程度小等優(yōu)點(diǎn)。
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