產(chǎn)品/服務(wù)
PRODUCT/SERVICE
產(chǎn)品搜索
元素含量分析儀器
化合物含量分析儀器
表面觀察儀器
光學顯微鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)
電子探針顯微鏡(EPMA)
透射電子顯微鏡(TEM)
掃描探針顯微鏡(SPM)
能譜儀
電子背散射衍射系統(tǒng)(EBSD)
陰極熒光光譜儀(CL)
切割&鑲嵌&研磨&拋光設(shè)備
離子研磨儀
鍍膜儀
主動式減震臺
離子減薄儀
結(jié)構(gòu)分析儀器
電化學分析儀器
物理性能分析儀器
量具工具
行業(yè)專用儀器
實驗室輔助及前處理設(shè)備
在線及過程控制儀器
化學試劑
標準物質(zhì)
耗材配件
實驗室服務(wù)
產(chǎn)品服務(wù)
-表面觀察儀器
-掃描電子顯微鏡(SEM)
型號：Talos F200X
品牌：FEI
行業(yè)：有機化工 冶煉行業(yè) 機械鑄造 建材行業(yè) 食品制藥 固廢環(huán)保 電子電器 電池行業(yè) 新興行業(yè) 整車行業(yè) 大學科研 分析檢測
咨詢電話：4000887086
FEI Talos F200X融合了高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。Talos F200X可在所有維度 (1D-4D) 下實現(xiàn)快速的 EDS 分析，以及支持快速導航的動態(tài)顯微鏡 HRTEM 成像。
Talos F200S在STEM成像上具有多功能性和高的通量。與此同時，F(xiàn)EI Talos F200S還提供高的穩(wěn)定性和長的正常運行時間。
明場X-FEG：1.8×109 A/cm2 srad（@200kV）
總束電流：>50nA
探針電流：2nA@1nm探針（200 kV）；0.4 nA@0.31nm探針
EDS系統(tǒng)：2 SDD無窗設(shè)計，shutter保護
能量分辨率：≤136 eV，對Mn-Kalpha和10kcps（輸出）
快速EDS：像素駐留時間低至10 us除了這些基本特性外，本中心的Talos還裝備：
1、Ceta 4K*4K 相機；
2、用于STEM模式的環(huán)形暗場探頭（HAADF）以及BF/DF探頭；
3、Gatan 626冷凍傳輸樣品桿，單傾樣品桿以及三維重構(gòu)樣品桿；
4、 單顆粒技術(shù)自動化數(shù)據(jù)收集系統(tǒng)EPU和電子斷層掃描技術(shù)自動化數(shù)據(jù)收集軟件Xplore3D。
Talos可以滿足冷凍單顆粒技術(shù)、冷凍電子斷層掃描技術(shù)、STEM電子斷層掃描技術(shù)的數(shù)據(jù)收集需求，如：
1、進行液氮溫度的冷凍樣品數(shù)據(jù)收集；
2、可進行單顆粒樣品數(shù)據(jù)收集；